41. Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده: Bhattacharya, Debashis
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits,Very large scale integration - Computer simulation ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
B484
1990
42. Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده: Bhattacharya, Debashis
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer simulation
رده :
TK
7874
.
B484
1990
43. Hierarchical modeling for VLSI circuit testing
پدیدآورنده: Bhattacharya, Debashis, 1691-
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation
44. High-level test synthesis of digital VLSI circuits
پدیدآورنده: Lee, Mike Tien-Chien
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Computer-aided design,، Digital integrated circuits-- Testing-- Data processing
رده :
TK
7874
.
75
.
L44
1997
45. IDDQ testing of VLSI circuits
پدیدآورنده: / edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
رده :
TK
7874
.
I3223
1993
46. Introduction to IDDQ testing
پدیدآورنده: Chakravarty, Sreejit
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، IDDQ testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
.
C4
1997
47. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده: Robert J. Feugate, Jr., Steven M. McIntyre
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Testing
رده :
TK
،
7874
،.
F48
،
1988
48. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده: / Robert J. Feugate, Jr., Steven M. McIntyre
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
F48
1988
49. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده: Feugate, Robert J.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
رده :
TK
7874
.
F48
1988
50. Introduction to VLSI testing
پدیدآورنده: Feugate, Robert J.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
F48
1988
51. LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده: Tsui, Frank F.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Large scale integration - Testing ، Integrated circuits,Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
T78
1987
52. LSI/VLSI testability design
پدیدآورنده : Frank F. Tsui
موضوع : Integrated circuits-- Large scale integration-- Testing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
53. Machine learning in VLSI computer-aided design /
پدیدآورنده: editors, Abrahim (Abe) M. Elfadel, Duane S. Boning and Xin Li.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer-aided design.,Machine learning.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Computer-aided design.,Machine learning.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Mechanical.
رده :
TK7874
.
75
54. Polymeric materials for electronics packaging and interconnection :
پدیدآورنده: John H. Lupinski, editor, Robert S. Moore, editor.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Electronic packaging-- Materials, Congresses.,Polymers, Congresses.
رده :
TK7870
.
P654
1989
55. Power- constrained testing of VLSI circuits
پدیدآورنده: Nicolici, Nicola
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود (سمنان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits, Very large scale integration,Protection ، Integrated circuits, Very large scale integration,Thermal properties ، Semiconductors
رده :
TK
7874
.
75
.
N5P6
56. Progress in VLSI design and test
پدیدآورنده: Hafizur Rahaman, Sanatan Chattopadhyay, Santanu Chattopadhyay (eds.)
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction, Congresses,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing, Congresses
رده :
TK7874
.
75
.
V43
2012eb
57. Progress in VLSI design and test
پدیدآورنده: / Hafizur Rahaman, Sanatan Chattopadhyay, Santanu Chattopadhyay (eds.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration--Design and construction--Congresses,Integrated circuits--Very large scale integration--Testing--Congresses
رده :
TK7874
.
75
.
V43
2012
58. Rapid reliability assessment of VLSICs
پدیدآورنده: / A.P. Dorey ... (et al.)
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Reliability
رده :
TK
7874
.
R37
1990
59. Reasoning in Boolean networks
پدیدآورنده: / by Wolfgang Kunz and Dominik Stoffel
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع: Integrated circuits, Very large scale integration, Testing, Data processing,Integrated circuits, Verification, Data processing,Logic design, Data processing
رده :
TK7874
.
K866
1997
60. Reasoning in Boolean networks: logic synthesis and verification using testing techniques
پدیدآورنده: Kunz, Wolfgang
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing,، Integrated circuits-- Verification-- Data processing,، Logic design-- Data processing
رده :
TK
7874
.
K866
1997
